上海儀電物光顆粒圖像分析儀(國產(chǎn)顯微鏡）WKL-702

市場價：￥61500
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品　牌：儀電（物光）【查看更多】
參　數(shù)：
測量范圍：0-3000微米
最大光學放大倍數(shù)：1600倍
數(shù)字攝像機(CCD)：500萬像素
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詳細介紹

將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術相結合，是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器，由光學顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字攝像機將圖像傳輸給電腦，通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理，具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。

1、圖像多種處理方法：影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節(jié)、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。

2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量。

3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù)，以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖。

技術參數(shù)：

儀器型號	WKL-702
測量范圍	0.1～3000（微米）
總放大倍數(shù)	8000倍
最大分辨率	0.1微米/像素
重復性	誤差≤±1％
自動分割速度	≤1秒
數(shù)字攝像機(CCD)	500萬像素
數(shù)據(jù)儲存	電腦另配
通信接口	USB
操作系統(tǒng)	Windows 98/XP/7/8/10系統(tǒng)均可
電源	AC220V ±10％ 200W
儀器尺寸	270mmX410mmX440mm
儀器凈重	15kg

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